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山内 俊彦; 星野 克道; 川島 寿人; 小川 俊英
Physics Letters A, 246(6), p.534 - 541, 1998/00
被引用回数：1 パーセンタイル：15.75(Physics, Multidisciplinary)JFT-2Mトカマクプラズマに電子サイクロトロン共鳴加熱(ECRH:Oモードの中心加熱、約250KW入射)を行った時、プラズマ中心にホローのある電子密度分布が初めてTVトムソン散乱装置によって測定された。周辺の分布は、中心領域からの粒子のポンプアウトと外からのガスパスの入射により増加している。このホロー化は時間とともに深くなり、約40ms後に飽和し、少々の温度減少があってもホロー比を一定に保っている。このホロー比はトムソン散乱信号のフィッテング曲線の誤差から生じているのではなく、電子加熱帯周辺の急激な温度勾配と強く関係している。
山内 俊彦; 石毛 洋一*; 小沢 皓雄*; 椎名 富雄
Physics Letters A, 247(4-5), p.330 - 338, 1998/00
被引用回数：4 パーセンタイル：38.81(Physics, Multidisciplinary)JFT-2M Hモードプラズマにおける電子温度・密度分布をTVTSを使って精度の高い分布を得た。その分布を使って以下の物理が明らかとなった。まず、Hモードにおける周辺の温度勾配はLモードより5~6倍大きい。次に電子温度のスケール長はHモードの初めに密度のスケール長と等しいことが判った。また、Hモードにおける温度のスケール長の逆数(減衰率)はオーミック加熱と対照的に密度の減衰率より大きい。次に、ELMyHモードにおいて、周辺の密度分布はセパラトリックスの外側にはみ出た広い分布となり、温度及び密度のスケール長はELMyのないHモードのものより長い。
